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德國西門(mén)子SIEMENS物位測量基本原理
更新時(shí)間:2021-11-23   點(diǎn)擊次數:1141次

德國西門(mén)子SIEMENS物位測量基本原理:

在物位側量中,盡管各種測量方法所用的技術(shù)各不相同,但可把它們歸納為以下幾種測量原理

1)基于力學(xué)原理

敏感元件所受到的力(壓力)的大小與物位成正比,它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測量等。

2)基于相對變化原理

當物位變化時(shí),物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變,通過(guò)測量距離的相對變化可獲得物位的信息。這種測量原理包括聲學(xué)法、微波法和光學(xué)法等。

3)基于某強度性物理量隨物位的升高而增加原理

例如對射線(xiàn)的吸收強度,電容器的電容量等。

日本西門(mén)子SIEMENS物位測量主要方法:在實(shí)際生產(chǎn)中,物位測量對象有液位也有料位等,有幾十米高的大容器、也有幾毫米的微型容器,介質(zhì)的特性更是千差萬(wàn)別。因此,物位測量方法很多,以適應各種不同的測量要求。

目前常用的物位測量方法可分為下列幾種。

靜壓式物位測量

根據流體靜力學(xué)原理檢測物位。靜止介質(zhì)內某一點(diǎn)的靜壓力與介質(zhì)上方自由空間壓力之差,與該點(diǎn)上方的介質(zhì)高度成正比,因此可利用差壓來(lái)檢測液位。這種方法一般只用在液位的檢測。主要采用玻璃管及壓力(壓差)儀表來(lái)側量。

浮力式物位測量

利用漂浮于液面上浮子隨液面變化的位置,或者部分浸沒(méi)于液體中的物質(zhì)的浮力隨液位變化來(lái)檢測液位。前者稱(chēng)為恒浮力法,后者稱(chēng)變浮力法,二者均用于液位的測量。恒浮力式物位測量包括浮標式、浮球式和翻板式等各種方法。變浮力式物位測量方法中典型的敏感元件是浮筒,它是利用浮筒由于液體浸沒(méi)高度不同以致所受的浮力不同來(lái)檢測液位的變化。

電氣式物位測量

把敏感元件做成一定形狀的電極置于被測介質(zhì)中,根據電極之間的電氣參數(如電阻、電容等)隨物位變化的改變來(lái)對物位進(jìn)行檢測。這種方法既可用于液位檢測,也可用于料位檢測。

聲學(xué)式物位側量

利用超聲波在介質(zhì)中的傳播速度及在不同相界面之間的反射特性來(lái)側量物位。液位和料位的測量都可以用此方法。

射線(xiàn)式物位測量

放射性同位素所放出的射線(xiàn)(如β射線(xiàn)、γ射線(xiàn)等)穿過(guò)被測介質(zhì)(液體或固體顆粒)因被其吸收而減弱,吸收程度與物位有關(guān)。由于射線(xiàn)的可穿透性,它們常被用于情況特殊或環(huán)境惡劣的場(chǎng)合實(shí)現各種參數的非接觸式測量,如位移、材料的厚度及成分、流體密度、流量、物位等。利用這種方法可實(shí)現物位的非接觸式測量。

除此之外還有微波法、光學(xué)法、重錘法等。




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